Изучения камней

Сканирующий электронный микроскоп
В 1438 г. был изготовлен (М. фон Арленне, Германия) первый экспериментальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). В 1942 г. (В. Зворыкин, США), был выпущен улучшенный образец с разрешающей способностью около 500 А, но лишь к 1965 г. появился первый коммерческий прибор,... подробнее»»

Метод реплик в электронной микроскопии
Более сложным по характеру по изготовлению, но с более широкими возможностями применения (по задачам и материалам) является так называемый метод реплик (метод отпечатков). Используемый вначале с целью изучения поверхностных характеристик металлов, этот метод включил затем изготовление отпечатков с материала и... подробнее»»

Электронный микроскоп
Успешность использования электронного микроскопа для изучения геологических объектов зависит от технического уровня применяемых приборов. В простейшем из методов (просвечивающем) различные виды геологических материалов могут быть облучены пучком электронов, их изображение затем изучено визуально (на флюоресиентвом экрана либо на фотографии). Низкая проникающая... подробнее»»

Электронная просвечивающая микроскопия
Область интересов геологов простирается от мельчайших частичек глин до галактик по Вселенной, и знания обеих крайностей равно необходимы для понимания происхождения и эволюции Земли, на которой мы живем. Так же как телескоп приблизил к нам крупные тела, рассеянные в космосе,... подробнее»»