Главная  Сделать стартовой  Контакты
  Все ГеоЭнциклопедии
Найди ответ здесь...

заказать | ваше мнение | написать нам
Например: гелиотроп
Главная »» Изучения камней »» Электронная просвечивающая микроскопия »» Метод реплик в электронной микроскопии »»
Подписка на новости портала
Отписаться от рассылки
Ваше мнение о портале
Поля, помеченные символом * , обязательны к заполнению.
Ваше имя:
*
Ваше мнение:
Введите число с картинки: 

Метод реплик в электронной микроскопии

Метод репликБолее сложным по характеру по изготовлению, но с более широкими возможностями применения (по задачам и материалам) является так называемый метод реплик (метод отпечатков). Используемый вначале с целью изучения поверхностных характеристик металлов, этот метод включил затем изготовление отпечатков с материала и последующее изучение тонких пленок, достаточно тонких дли того, чтобы через них смог проникнуть пучок электронов в микроскопе. Пленка может состоять просто из лака, такого как коллодий или формвар, который наносится на образец, застывает и затем снимается с него. Она может быть представлена веществом низкой плотности (таким, как бериллий, углерод или кремний), которое напыляется в вакууме на образец, и пленка затем отделяется от него определенным способом. В любом случае все особенности поверхности первичного образца исключительно точно повторяются в реплике.

Чтобы сделать более видимыми всяческие неправильности и границы, используется обычно метод металлического напыления. Тяжелые металлы, такие как золото, хром или платина, напыляются в вакууме под малым углом в плоскости образца, так что возвышения на реплике получают металлическое покрытие только со стороны источника поступающего металла («наветренная» сторона), в отличне от «подветренной» стороны, где металл не напыляется. Если затем сфотографировать реплику в электронном микроскопе, то увидим подчеркнутое положение этого возвышения или частицц, так как электронный пучок будет с большим трудом проходить сквозь край возвышения, покрытый металлом, по сравнению с краем без металла. Для многих исследований методом реплик пригоден также сканирующий электронный микроскоп, требующий к тому же меньше труда на приготовление препаратов.
27.10.2010 г.
Оценка:   Проголосовало: 0   Просмотров: 6493
Печать публикации Печать публикации     RSS
Оставить отзыв |  Вставить в блог |  Подписаться на новости |  Сообщить об опечатке
Оставить отзыв
Оцените публикацию:  1-  2-  3-  4-  5-
Ваше имя: 
Ваш e-mail: 
не публикуется на сайте
Введите число с картинки: 
Ваш комментарий:
«« Предыдущая публикация
Электронный микроскоп
Успешность использования электронного микроскопа для изучения геологических объектов зависит от технического уровня применяемых приборов. В простейшем из методов (просвечивающем) различные... подробнее»»
Найти "Метод реплик в электронной микроскопии" в поисковых системах:
Энциклопедия самоцветоы Теперь на наш сайт - "Энциклопедия самоцветов" можно попасть набрав адрес в кириллической раскладке ЭнциклопедияСамоцветоы.рф
добавить на Яндекс
ЭнциклопедияСамоцветов.рф в Твиттере Наш портал поселился в Твиттере. Микроблоги Энциклопедии Самоцветоы доступны по адресу www.twitter.com/seastonru
Все права защищены и охраняются законом. © 1995г.-2011г.
При полном или частичном цитировании информации гиперссылка на сайт www.seaston.ru обязательна