Успешность использования электронного микроскопа для изучения геологических объектов зависит от технического уровня применяемых приборов. В простейшем из методов (просвечивающем) различные виды геологических материалов могут быть облучены пучком электронов, их изображение затем изучено визуально (на флюоресиентвом экрана либо на фотографии).
Низкая проникающая способность электронного пучка в большинстве электронных микроскопоп такова, что только объекты толщиной менее 0.1 мкм можно считать прозрачными или просвечивающими. Однако большое число тонкозернистых минералов как раз соответствуют этим размерам, например глинистые, разновидности асбестов, гидратированные кальциевые силикаты, важные в производстве цементов, а также тонкие минеральные частички, образующиеся при химическом или физическом разложении более крупных частиц. Вместе с тем современная техника позволяет изготовление достаточно тонких срезов пород и минералов, способных пропустить электронный пучок и, таким образом, обеспечить их изучение методом просвечивающей электронной микроскопии.
Электронный микроскоп особенно успешно используется в минералогиии дли изучения разновидностей глин, асбестов и других веществ, размер кристаллов которых редко достигает размеров частиц, рассматриваемых в оптический микроскоп. Однако многие более грубозернистые кристаллические материалы встречаются также в частичках и кристалах микрометрового размера и меньше, например, доломит из осадков, богатых этим карбонатным минералом и монтмориллонитом. Призматические и ромбоэдрические грани кристаллов кварца наблюдались в репликах, сделанным по трещинным поверхностям в новокулите - разновидности кремния из Арканзаса.
Проголосовало: 0 Просмотров: 4470
